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这款四点探针系统是一款易于使用的工具,用于快速测量材料的薄层电阻,电阻率和电导率。 通过使用我们自己的源测量单元,我们能够创建一个低成本的系统,使测量范围更广泛。 探头采用弹簧加载接触,而不是尖锐的针头,防止损坏精密样品,如厚度在纳米左右的聚合物薄膜。 【详细说明】
特点:
广泛的测量范围 - 四点探头能够提供10 nA-100 mA的电流,并且可以测量低至100 V-10 V的电压。广泛的薄层电阻测量范围,从10m /□到10M /□,可表征多种材料。
非破坏性测试 - 设计时考虑到了精密样品的测量,四点探头采用镀金弹簧接触圆头, 60克的恒定接触力,防止探针刺破脆弱的薄膜,同时仍能提供良好的电接触。
节省空间的设计 - 通过垂直堆叠组件,我们能够将四点探头的占地面积降至zui低(总台面面积12 cm x 30 cm),甚至可以在缺乏货架空间的实验室中使用。
易于使用 - 只需插入系统,安装软件,即可开始使用! 直观的界面和清洁的设计,简化了薄膜电阻的测量。
快速材料表征 - PC软件可执行薄膜电阻,电阻率和电导率所有必要的测量和计算,从而使材料表征变得毫不费力。
要忘记保存您的实验数据 - 用于测量的设置会与数据一起保存,从而轻松查看实验的详细信息。 此外,这些设置文件可以通过相同的软件加载,加快重复测量和材料表征。 用更少的时间重复测量,您的研究成果可以显着增加。
技术参数:
电压范围
100 V至10 V
当前范围
10 nA到100 mA
薄层电阻范围
10m /□至10M /□
测量精度
4%
测量精度
0.5%
探针间距
1.27毫米
矩形样本大小范围
长边zui小值:4毫米
短边zui大值:60毫米
圆形样品尺寸范围(直径)
4毫米到76.2毫米
zui大样品厚度
5毫米
总体尺寸
宽度:120毫米
高度:100毫米
深度:300毫米
支持的操作系统
Windows Vista,7,8和10(64位)
zui小显示器分辨率
1440 x 900
建议的监视器分辨
1920 x 1080
所需的硬盘空间
400 MB
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