岩样样品的孔隙率及表面粗糙度测量光学显微镜应用

  光截面法测定是观察(在有刻度尺的特殊显微镜的目镜
里)从侧面照明的膜层图象。本方法仅能用于平表面上产生
的厚1～20微米的透明无色膜。精度为±5％。

  评价阳极氧化膜厚度的涡流法是在检验的表面上放一个
用这种方法确定的孔隙率也考虑了水中饱和时未渗入的孔隙。
  当完整岩石样品不能粉碎时，

应用于所有在烤炉烘干时不显著收缩的完全岩样。运用玻
义耳定律能确定出样品的孔隙率和干密度。

将测定含水量用过的两块试片，悬挂在直径足够大的烧
杯里，以保证试片的底边置于水平面上5厘米的位置上。烧
杯应当用带有橡皮管的密封盖盖紧。将装有试片的烧杯放在
恒温箱里保温6小时。接着，迅速地将试片转移至U一个具塞
的容器里称重。计算重量的增量占膜重的百分数。
表面粗糙度(均匀性)的测定

  通过光学的或其他适当的方法，测定出磷酸盐膜的表面
粗糙度，来表示膜的均匀性。光滑、结晶细致的磷酸盐膜粗
糙度低于1微米，而在租糙膜层的情况里，粗糙度可能会超
过10微米。

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