触针法和表面轮廓仪及光学显微镜在轮廓测量技术简介

  一种非常简单的方法是，使一根细针或触针在表面上来
回移动。再用合适的传感器测量它的上下位移。测量粗糙度
的轮廓仪和电刷榆测仪就是采用这种方法。触针通常具有半
径约万分之一英寸的金钢石或蓝宝石针头。垂直位移通过电
子仪器放大后记录在描笔式记录器或合适的测量仪器上。垂
直放大率叮以达到40，000左右，因此仪器可以记录高度小到
珂万分之一英寸的表面特征。它的最大灵敏度受到触针一定
尺寸的限制，以防触针深入最细的划痕或凹凸处。
斜剖切或推拔剖切

  另一种方法是通过表面剖切截面，再用光学显微镜观测
该截面。
冶金工作者常用这种剖切方法，它不仅能显示表面的形状，
而且还能显示表面层下的材料组织。
更详细地观测表面形状、剖切表面时可使截面与表面
因此，这种推拔截面或斜截面能比习用的金相截面更详细地
显示表面。但是，它们只能显示用各自截面剖切的那些沟槽。
如果按一个方向对试件进行磨削或抛光，这就是我们所需要
的全部数据。但是，如果把试件任意地抛光，以致沟槽走向
各个方向，那就要沿不同方向剖切几个截面以便获得表面的
全面图形。
  对于推拔截面或斜截面，必须做到以下两点。第一，在
剖切表面之前必须?；ず米杂杀砻妗８砻娴缍埔徊阌捕却?br>致相同的金属，可以做到这一点。第二，对截面进行抛光时
必须十分当心，以致抛光过程本身不致在表面轮廓上产生人
为特征。
用不同方法制成的金属表面的某些典型结果。如果我们
能够?；ず帽砻娑瞥膳坠饨孛?，那末这种方法也能用于非金属

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