显微镜的测量

  如果试样中所有有颗粒是相同有简单几何形状的物体，如球体、圆
柱体或立方体，则问题就相当直截了当，粒度可以颗粒的直径，直径高
度或边长以及类似的量表示，可惜，实际上颗粒几乎总具有高度不规则
的形状，还没有已知的方法能够以简单合理的数学方法准确地表示它们
的粒度，而不得不采取各种权的措施，常用的方法是等当球体，这是指
一个具有与该颗粒相同的体积，对于表面问题，时常便利地把球体想象
为具有与颗粒相同的面积。

  在显微镜的测量中，用平均投影直径，即具有与颗粒的投影相同面
积的圆的直径，这是从与最称平面垂直方向观察的，没有考虑颗粒厚度，
即与最稳定平面垂直的度量。

  粒度分布现在假定，已用某些方式测定了粉体试样中所有的颗粒的
直径，一般地将发现，它们不都相等，但是有一个粒度分布，有些颗粒
是细的，也有些是粗的，而大量的是中等直径的，就是在细心分级的试
样中。几乎肯定还有直径的变化，这种分布最好用“频率图”表示，典
型的点表示有16% 的颗粒的直径介于20和25，检查的颗粒数愈多，实验
曲线变得愈平滑，愈加密切接近概率曲线些，粉末的均匀度是以曲线顶
峰的陡工表示，所以虚线比实线代表一种更均匀的粉体。

  为了充分地引用某给定试样的颗粒直径，需要给出对应的分布曲线，
但是这相当麻烦，并且对于许多目的，要求能够把直径用一个单一数值
表示，这就要用一些合适的统计方法，将实际数值进行平均，从而得到
统计直径。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)