????我司于2017年1月在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。该探针台配置四个三同轴探针臂和两个光纤探针臂，漏电流优于50fA。该探针台变温范围大（8K-675K）。我司提供Keithley 4200半导体特性仪，并提供集成变温IV、CV和输运和转移特性等测试软件

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??????? ? 变温测量IV和VI曲线?????????????????? ? 变温场效应管（横坐标Vgs，纵坐标Ids，

??????????????????????????????????????????????????????????? 不同曲线代表不同的Vds和温度）

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????????????? 变温场效应管（横坐标Vds，纵坐标Ids，?????????? 变温CV测试（横坐标偏压，纵坐

???????????????????? 不同曲线代表不同的Vgs和温度）??????????????????标电容，不同曲线代表不同温度） ????

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