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首页 > 供应产品 > OLS4100 3D测量激光显微镜
OLS4100 3D测量激光显微镜
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产品: 浏览次数:943OLS4100 3D测量激光显微镜 
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最后更新: 2019-05-06 21:41
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 岛津企业管理(中国)有限公司是(株)岛津制作所于1999年100%出资,在中国设立的现地法人公司,在中国全境拥有13个分公司,事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心,并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站,已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以 为了人类和地球的健康 为经营理念,始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务,为中国社会的进步贡献力量。


开拓了激光显微镜的界限。
-总是值得信赖的影像和测量-

OLS4100 3D测量激光显微镜的优势

非接触式、无损、快速成像和测量

○ 非接触式、无损测量

激光扫描显微镜(LSM)采用低功率激光,不接触样品。因此,不像基于探针系统的接触式表面粗糙度测量仪那样存在损坏样品的风险。

 

○ 无需前期准备即可成像

扫描电子显微镜(SEM)在观察之前需要进行前期的样品准备,如真空脱水和/或切片处理,使之适合样品室。而LSM则无需前期的样品准备即可对样品进行测量。而且,将样品放置在载物台上之后,即可直接开始成像。

 

 卓越的XY测量

○ 在XY平面精确测量亚微米级的距离

干涉仪是基于普通白光的光学显微镜,它的平面分辨率不高。而LSM通过采用更大数值孔径的物镜和更小波长的光波,极大地提高了平面分辨率。并且通过高精度的激光控制技术,获得更为精确的样品表面形貌。根据拍摄到的图像,LSM可以进行非常精确的XY平面亚微米测量。LEXT OLS4100达到了0.12 m的平面分辨率。

卓越的Z轴测量

○ 在Z方向上精确测量亚微米级的高度
 

SEM可以拍摄到超高分辨率的影像,但是无法得到高度信息。LSM采用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统,会删除未聚焦区域的信号,只将聚焦范围内的反射光检测为同一高度。同时结合高精度的光栅读取能力,可以生成高画质的影像,实现精确的3D测量。LEXT OLS4100达到了10nm的高度分辨率。


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