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努美（北京）科技有限公司(NMERRY TECHNOLOGY CO.,LTD.)成立于2013年。主营产品涵盖光电仪器、精密机械、电子、计算机技术于一体的科技企业。在全国的大学、科研机构、高新技术企业均有我们提供的高端科研仪器设备。

努美科技作为中国的高端光电仪器和实验室配套设备制造商与进口品牌代理商，致力于把欧美等国的光电产品带给中国每个科研工作者、每个科学实验室、每个科学研究机构而努力。

制造产品：光学平台、积分球系统、均匀光源、光谱测量系统等。

代理产品：HySpex高光谱成像仪、labsphere蓝菲光学积分球系统、TMC光学平台、Otsuka超快光纤光谱仪、SVC地物光谱仪、HORIBA Jobin Yvon光栅光谱仪、Avantes光纤光谱仪、Lambert时间分辨像增强相机ICCD、D P傅立叶变换热红外光谱辐射仪、ISDC黑体、Alluxa滤光片、Spectrogon滤光片、ASAHI-SPECTRA滤光片、Semrock滤光片、Andover滤光片、Barr滤光片、SIGMAKOKI光机械等光电产品。

我们本着 精诚致业、诚信为本、追求卓越 的宗旨，崇尚 人文情怀 的管理思想，博众之长、补己之短使公司更加完善，并围绕客户的需求持续创新为客户创造最大价值。

我们以专业和创新的理念在高校、科研、企业都拥有丰富的项目实施经验，已完成全国多个国家重点课题项目，为客户提供高质量的产品和优质的售后服务。

手持三维激光扫描仪H19

1.三维光学扫描系统配置与功能要求

(1) 数据采集传感器：高速、高精密工业级相机2台

(2) 测量光源：14束交叉激光线+1束激光线，激光级别ClassII(人眼安全)，波长大于600nm

(3) 计算机系统：支持windows 7及以上，32位和64位操作系统，支持内存16G以上

(4) 拼接方式：系统整合 专业模式 全自动标志点拼接?？?/p>

(5) 全局误差控制方式：系统整合GREC Pro全局误差控制模块

(6) 使用方便：整个过程全部手持完成，无需三脚架等支撑装置

(7) 普通环境下可以测量鎏金等高光亮物体以及黑色物体，无需喷涂显影剂等预先处理

(8)防抖设计：采用先进的防抖动算法，防止扫描过程中人为的抖动对误差的影响

(9)扫描过程中可以进行实时可变点距扫描，实时加密局部细节点距

2.总体技术要求

扫描方式：激光手持照相式

扫描技术：激光线网格扫描技术

扫描区域：300 mm 275 mm

景深：250 mm

工作距离：300 mm

扫描速率： 480000 次/秒

扫描分辨率：0.05 mm

测量精度：0.03 mm

体积精度：0.020 + 0.060 mm/m

体积精度（结合DigiMetric）：0.020 + 0.025 mm/m

测量范围（物件尺寸）：0.1 ～8 m，可扩展

传输方式： USB3.0

工作温度：-10 - 40℃

工作湿度：10 - 90 %

3.三维光学扫描系统软件功能要求

全中文软件界面

 自适应形面扫描?？?/p>

(1)  自动调节系统参数，自适应各种材质/颜色表面的不同扫描对象，无需手动调节

(2)  可变点距扫描，在同一次扫描中，可对点距进行灵活设置和改变，同时满足高速扫描以及精细扫描的需求

自动拼接?？?/p>

(1)  智能标志点识别技术：系统自动跟踪识别标志点

(2)  GREC Pro全局误差控制模块，可对拼接后的误差进行全局控制

全局框架扫描模块

(1)  全局框架扫描技术，对框架点累积误差进行全局控制

(2)  兼容DigiMetric系统，搭载全局摄影测量技术可将扫描范围扩展至几十米

点云处理?？?/p>扫描数据后，可进行点云噪声处理及修剪基于曲率的点云精简功能自动生成三角面

数据输入输出 

导出结果为ASC，STL，OBJ，OKO等格式数据输出接口广泛,测量结果可与CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程软件自由交换数据手持三维激光扫描仪H17

1.三维光学扫描系统配置与功能要求

(1) 数据采集传感器：高速、高精密工业级相机2台

(2) 测量光源：10束交叉激光线，激光级别ClassII(人眼安全)，波长大于600纳米

(3) 计算机系统：支持windows 7及以上，32位和64位操作系统，支持内存16G以上

(4) 拼接方式：系统整合 专业模式 全自动标志点拼接?？?/p>

(5) 全局误差控制方式：系统整合GREC Pro全局误差控制?？?/p>

(6) 使用方便：整个过程全部手持完成，无需三脚架等支撑装置

(7) 普通环境下可以测量鎏金等高光亮物体以及黑色物体，无需喷涂显影剂等预先处理

(8)防抖设计：采用先进的防抖动算法，防止扫描过程中人为的抖动对误差的影响

(9)扫描过程中可以进行实时可变点距扫描，实时加密局部细节点距

2.总体技术要求

扫描方式：激光手持照相式

扫描技术：激光线网格扫描技术

扫描区域：300 mm 250 mm

景深：250 mm

工作距离：300 mm

扫描速率： 350000 次/秒

扫描分辨率：0.100 mm

测量精度：最高0.03 mm

体积精度：0.020 + 0.080 mm/m

体积精度（结合DigiMetric）：0.020 + 0.025 mm/m

测量范围（物件尺寸）：0.1 ～8 m，可扩展

传输方式：USB3.0

工作温度：-10 - 40℃

工作湿度：10 - 90 %

3.三维光学扫描系统软件功能要求

全中文软件界面

自适应形面扫描?？?/p>

  (1)  自动调节系统参数，自适应各种材质/颜色表面的不同扫描对象，无需手动调节

  (2)  可变点距扫描，在同一次扫描中，可对点距进行灵活设置和改变，同时满足高速扫描以及精细扫描的需求

自动拼接?？?/p>

(1)  智能标志点识别技术：系统自动跟踪识别标志点

(2)  GREC Pro全局误差控制?？?，可对拼接后的误差进行全局控制

全局框架扫描?？?/p>

(1)  全局框架扫描技术，对框架点累积误差进行全局控制

(2)  兼容DigiMetric系统，搭载全局摄影测量技术可将扫描范围扩展至几十米

点云处理模块

扫描数据后，可进行点云噪声处理及修剪基于曲率的点云精简功能自动生成三角面

数据输入输出

导出结果为ASC，STL，OBJ，OKO等格式数据输出接口广泛,测量结果可与CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程软件自由交换数据手持式三维激光扫描仪H15

1.三维光学扫描系统配置与功能要求

(1) 数据采集传感器：高速、高精密工业级相机2台

(2) 测量光源：6 束交叉激光线，激光级别ClassII(人眼安全)，波长大于600纳米

(3) 计算机系统：支持windows 7及以上，32位和64位操作系统，支持内存16G以上

(4) 拼接方式：系统整合 专业模式 全自动标志点拼接?？?/p>

(5) 全局误差控制方式：系统整合GREC Pro全局误差控制?？?/p>

(6) 使用方便：整个过程全部手持完成，无需三脚架等支撑装置

(7) 普通环境下可以测量鎏金等高光亮物体以及黑色物体，无需喷涂显影剂等预先处理

(8)防抖设计：采用先进的防抖动算法，防止扫描过程中人为的抖动对误差的影响

(9)扫描过程中可以进行实时可变点距扫描，实时加密局部细节点距

2.总体技术要求

扫描方式：激光手持照相式

扫描技术：激光线网格扫描技术

扫描区域：280 mm 250 mm

景深：250 mm

工作距离：300 mm

*扫描速率：240000 次/秒

扫描分辨率：0.100 mm

测量精度：最高0.03 mm

体积精度：0.020 + 0.100 mm/m

体积精度（结合DigiMetric）：0.020 + 0.025 mm/m

测量范围（物件尺寸）：0.1 ～6 m，可扩展

传输方式：USB3.0

工作温度：-10 - 40℃

工作湿度：10 - 90 %

3.三维光学扫描系统软件功能要求

全中文软件界面

自适应形面扫描?？?/p>

  (1)  自动调节系统参数，自适应各种材质/颜色表面的不同扫描对象，无需手动调节

  (2)  可变点距扫描，在同一次扫描中，可对点距进行灵活设置和改变，同时满足高速扫描以及精细扫描的需求

自动拼接模块

(1)  智能标志点识别技术：系统自动跟踪识别标志点

(2)  GREC Pro全局误差控制?？?，可对拼接后的误差进行全局控制

全局框架扫描?？?/p>

(1)  全局框架扫描技术，对框架点累积误差进行全局控制

(2)  兼容DigiMetric系统，搭载全局摄影测量技术可将扫描范围扩展至几十米

点云处理模块

扫描数据后，可进行点云噪声处理及修剪基于曲率的点云精简功能自动生成三角面

数据输入输出

导出结果为ASC，STL，OBJ，OKO等格式数据输出接口广泛,测量结果可与CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程软件自由交换数据