HORIBA欧洲总部 自从1988年合并了美国SPEX公司和1995年合并了法国Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大仪器制造集团――HORIBA公司，完成了公司强强联手。如今Jobin Yvon在法国、美国、日本、英国、意大利、荷兰设有生产厂家，其分支机构遍布全球。现在Jobin Yvon公司除了提供各种类型的衍射光栅和离子刻蚀全息光栅外，还提供各种类型的光谱仪产品，如：激光拉曼光谱仪（Raman），荧光（寿命）光谱仪（FL），直读火花光谱仪（SPARK），电感耦合等离子发射光谱仪（ICP），辉光放电光谱仪（GDS），椭圆偏振光谱仪（Ellipsometry），特殊搭建系统（System）及各种光学光谱器件（成像光谱仪，光源，IR检测器，CCD检测器等）。 目前，HORIBA Jobin Yvon公司设立了薄膜部、拉曼（光谱仪）部、发射（光谱仪）部、荧光（光谱仪）部、法医部、光学仪器部、光栅 OEM仪器部等7个部门。旨在为您提供强大的技术支持与科研保障！

 成立于1819年，Jobin Yvon公司的总部设在高科技发达的法国首都――巴黎。在近二百年的发展中，Jobin Yvon公司始终遵循着创建以来的一贯宗旨――高品质，使公司一直处于世界光栅及光谱仪生产的领军地位，并不断的创造着世界率先：      

 1900年 世博会上的干涉仪、光弹性测量仪      
 1962年 双级光谱仪和1400系列双级激光拉曼光谱仪以及计算机全控制荧光光谱仪  
 1968年 商品化全息光栅      
 1973年 相差校正全息光栅（荣获IR100奖）      
 1977年 拉曼分子显微探针（IR100奖），顺序扫描型ICP光谱仪    
 1975年 全计算机化光子计数拉曼光谱仪和全计算机化光子计数荧光光谱仪  
 1983年 离子刻蚀 闪耀 全息光栅    
 1985年 光栅型波分复用器    
 1989年 超级校正全息光栅和二维成像光谱仪    
 1996年 荣获法国CNRSZ佳椭偏仪奖    
 1998年 可配CCD检测器的Triax系列光谱仪（获激光仪诱导发光技术奖）    
 1998-1996年 收购美国知名品牌SPEX、法国Dilor和法国Sofie仪器公司    
 2001年 获得美国宇航局（NASA）颁发 宇宙起源摄谱仪光栅接触贡献奖    
 2002年 世界首台FTIFR联用拉曼光谱仪，在Pittcon展会获得EditorZ佳新品奖  
 2002-2003年 收购德国Philips椭偏仪公司和IBH（英格兰）公司    
 2006年 美国宇航局（NASA）喷射推进实验室颁发 运行碳观测器（OCO）衍射光栅杰出贡献奖    
   
HORIBA欧洲总部
    自从1988年合并了美国SPEX公司和1995年合并了法国Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大仪器制造集团――HORIBA公司，完成了公司强强联手。如今Jobin Yvon在法国、美国、日本、英国、意大利、荷兰设有生产厂家，其分支机构遍布全球。现在Jobin Yvon公司除了提供各种类型的衍射光栅和离子刻蚀全息光栅外，还提供各种类型的光谱仪产品，如：激光拉曼光谱仪（Raman），荧光（寿命）光谱仪（FL），直读火花光谱仪（SPARK），电感耦合等离子发射光谱仪（ICP），辉光放电光谱仪（GDS），椭圆偏振光谱仪（Ellipsometry），特殊搭建系统（System）及各种光学光谱器件（成像光谱仪，光源，IR检测器，CCD检测器等）。          
    目前，HORIBA Jobin Yvon公司设立了薄膜部、拉曼（光谱仪）部、发射（光谱仪）部、荧光（光谱仪）部、法医部、光学仪器部、光栅 OEM仪器部等7个部门。旨在为您提供强大的技术支持与科研保障！ 

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SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具，如颗粒粒径、zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定；还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。

SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。

产品特点

 同台仪器可测三种参数 粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数

 宽检测范围，宽浓度范围 样品浓度可达40%

 自动滴定仪 可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

 软件操作简单功能强大，一键测量

 双光路双角度粒径测量（90 和173 ）

 采用微量样品池

技术参数

粒径测量原理：动态光散射法（光子相关光谱法）

粒径测定范围：0.3nm ～10 m

粒径测量精度： 2%（NIST 可溯源标准粒子100nm）

Zeta 电位测量原理：激光多普勒电泳法

Zeta 电位测量范围：-500 mV ～ +500 mV

分子量测量原理：Debye plot

分子量测量范围：1000 ～ 2 107 Da

测量角度：90 和173 （可自动或手动选择）

样品量：12 L ～ 1000 L